исследователь, Андижанский машиностроительный институт, Республика Узбекистан, г. Андижан
Влияние гамма-излучения на солнечный элемент
АННОТАЦИЯ
В статье представлен теоретический анализ влияния гамма-излучения на кинетические характеристики и вольт-амперные характеристики кремниевых носителей заряда солнечных элементов и результаты, полученные на новой национальной технологической платформе.
ABSTRACT
The article presents a theoretical analysis of the effect of gamma radiation on the kinetic characteristics and current-voltage characteristics of silicon charge carriers of solar cells and the results obtained on the new national technological platform.
Ключевые слова: гамма-излучение, солнечный элемент, кремний, моделирование, диффузионная длина, вольт-амперная характеристика.
Keywords: gamma radiation, solar cell, silicon, modeling, diffusion length, current-voltage characteristic.
В то время, когда использование солнечных элементов расширяется, возникают проблемы с их использованием. Примеры включают отрицательное влияние температуры на солнечные элементы в высокотемпературных областях [4], отрицательное влияние гамма-излучения на эффективность солнечных элементов при использовании в качестве источников энергии на космических станциях, а также в пыльных областях с высоким уровнем загрязнения окружающей среды. [2-3]. Конечно, его стоимость и доступность сырья играют важную роль при производстве солнечных элементов [3]. Вот почему солнечные элементы на основе кремния в основном используются во всем мире. Изучение и устранение внешних неблагоприятных воздействий на кремниевые солнечные элементы - одна из актуальных задач в энергетическом секторе. Примером этого является негативное воздействие гамма-излучения.
Воздействие гамма-излучения на кремниевые солнечные элементы начинает ощущаться, когда количество излучения превышает 1 кР. Эксперименты показали, что из-за воздействия гамма-излучения на кремниевые солнечные элементы эффективность снижается в зависимости от дозы облучения [6].
Предположим, гамма-квант проходит через атом в узле кристаллической решетки, и в этом случае он вызывает колебания атома. Если частота колебаний из-за гамма-излучения равна частоте колебаний атома в узле кристаллической решетки, происходит резонансное событие и образуются пара электронов и полости [7].
Солнечные элементы имеют центры рекомбинации и генерации, расположение которых определяет диффузионную длину носителей заряда [5]. Когда солнечный элемент подвергается воздействию гамма-излучения, он создает дополнительные дефекты в солнечном элементе, изменяя центры генерации и рекомбинации. Это приводит к изменению диффузионной длины носителей заряда. Если, изменение длины диффузии на единицу дозы гамма-излучения пропорционально 3-й степени диффузионной длины [1].
(1)
(2)
Где: L - длина диффузии носителей заряда, D - доза гамма-излучения, а k - постоянный коэффициент.
Решая приведенное выше дифференциальное уравнение, мы можем определить длину диффузии носителей заряда при произвольной дозе гамма-излучения.
(3)
В солнечных элементах фототок прямо пропорционален диффузионной длине носителей заряда.
(4)
Rosenzweig экспериментально нашел аналитическую формулу для определения тока короткого замыкания кремниевых солнечных элементов.
(5)
Здесь: S - площадь поверхности солнечного элемента, E - энергия света, поглощаемая солнечным элементом, r - плотность кремния, e - заряд электрона, а ε - среднее количество энергии, необходимое для образования пары электронов и резонатора.
Если предположить, что гамма-излучение влияет только на длину диффузии носителей заряда и что остальные параметры в формуле 5 не изменяются, то между током короткого замыкания и длиной диффузии образуется линейная зависимость.
(6)
(7)
Здесь: L0 - длина диффузии до воздействия гамма-излучения, L - длина диффузии после воздействия гамма-излучения.
(8)
Соотношение между токами короткого замыкания до и после воздействия гамма-излучения определяется формулой (8). Это означает что, если доза облучения увеличивается, величина тока короткого замыкания будет уменьшаться, что приведет к снижению эффективности солнечного элемента.
Сегодня большая часть вычислительной работы выполняется с помощью цифровых технологий. Это увеличивает точность и скорость расчета. Для повышения эффективности научных работ в области физики полупроводников мы разработали национальную технологическую платформу под названием «SuntulipAGAUz». Используя эту платформу, мы можем в цифровом виде моделировать микро-, наноэлектронные и фотоэлектрические устройства. Кроме того, мы можем получить многие характеристики моделей, которые мы создаем на этой платформе, с учетом влияния внешней среды.
Рисунок 1. Зависимость диффузионной длины носителей заряда в солнечном элементе на основе кремния от дозы гамма-излучения
С помощью платформы была создана модель солнечного элемента на основе кремния. Его параметры следующие: толщина 200 мкм, концентрация доноров 1э17 см-3, концентрация акцепторов 1э15 см-3, толщина антибликового слоя SiO2 75 нм. И параметры эффектов: источник света - AM1.5D, температура 300К. Также было изучено влияние дозы гамма-излучения на эту модель. На график 1. показано влияние гамма-излучения на диффузионную длину носителей заряда. На этом графике количество гамма-излучения принято, как десятичный логарифм.
Таким образом, влияние гамма-излучения на длину диффузии носителей заряда в солнечных элементах на основе кремния значительно влияет, когда эффект гамма-излучения превышает 1э8 рад. Это связано с тем, что проницаемость для гамма-излучения кремния n и p типов составляет 10э-5. Из формул (4) и (8) можно понять, что ток короткого замыкания также резко падает. Это означает, что коэффициент полезной работы снижается, когда кремниевый солнечный элемент подвергается воздействию гамма-излучения. Это означает, что мы не можем использовать кремниевые солнечные элементы, которые мы используем сегодня, в качестве источника энергии в космосе. Потому что количество гамма-излучения в космосе очень велико. Чтобы уменьшить влияние гамма-излучения, следует использовать дополнительный слой, так как антиотражающий слой используется для поглощения большего количества солнечного света в солнечных элементах.
Список литературы:
- F.H.ATTIX, Dosimetry by Solid State Devices, NRL Report 5777, June 15,1962.
- J. Barth, “Modeling Space Radiation Environment”, 1997 IEEE NSREC Short Course.
- M. A. Green, K. Emery, Y. Hishikawa, W. Warta, and E. D. Dunlop, “Solar cell efficiency tables (version 39),” Progress in Photovoltaics: Research and Applications, vol. 20, no. 1, pp. 12–20, Jan. 2012.
- J.N. Shive, “Semiconductor Devices”, Van Nostrand, 1959.
- A.L. Fahrenbruch and R. H. Bube. “Foundamentals of Solar Cells”. Academic Press, New York, 1983.
- S. Witzack, R.D. Schrimpf, K.F. Galloway, D.M. Fleetwood, R.L. Pease, J.M. Puhl, D.M. Schmidt, W.E. Combs and J.S. Suehle, “Accelerated tests for simulating low dose rate gain degradation of lateral and substrate PNP bipolar junction transistors”, IEEE Trans. Nucl. Sci., NS-43, 6, 3151 (1996).
- V.A.J. Van Lint, T.M. Flanagan, R.E. Leadon, J.A. Naber and V.C. Rodgers, “Mechanisms of radiation effects in electronic materials”, Vol 1, John Wiley, NewYork (1980).